STN EN IEC 63185
Označenie: | STN EN IEC 63185 |
Platnosť: | Platná |
Počet strán: | 20 |
Jazyk: |
EN
|
Listinná verzia: | 14,10€ |
Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
12,69€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 14,10€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 18,33€ |
Slovenský názov: | Meranie komplexnej permitivity nízkostratových dielektrických podložiek metódou symetrického kruhového diskového rezonátora |
Anglický názov: | Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method |
Dátum vydania: | 01. 06. 2021 |
Dátum zrušenia: | |
ICS: | 33.120.30 |
Triediaci znak: | 35 3815 |
Úroveň zapracovania: | idt EN IEC 63185:2021, idt IEC 63185:2020 |
Vestník: | 05/21 |
Zmeny: | |
Nahradzujúce normy: | |
Nahradené normy: | |
Poznámka vo Vestníku: | |
Predmet normy: | IEC 63185:2020 relates to a measurement method for complex permittivity of a dielectric substrates at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the dielectric properties of low-loss materials used in microwave and millimeter-wave circuits and devices. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband measurements of dielectric substrates by using one resonator, where the effect of excitation holes is taken into account accurately on the basis of the mode-matching analysis. |
Náhľad normy: | Náhľad normy (PDF) |