STN 35 8971-3
Označenie: | STN 35 8971-3 |
Platnosť: | Zrušená |
Počet strán: | 8 |
Jazyk: |
CS
|
Listinná verzia: | 1,90€ |
Elektronická verzia: |
a) Bez možnosti tlače, prenosu textu a obrázkov:
1,71€ b) Bez možnosti tlače, s prenosom textu a obrázkov: 1,90€ c) S možnosťou tlače, prenosu textu a obrázkov: 2,47€ |
Slovenský názov: | Polovodičové súčiastky. Podložky pre masky a masky. Metódy merania základných parametrov |
Anglický názov: | Semiconductor devices. Substratums for masks and masks. Measuring methods of characteristic parameters |
Dátum vydania: | 20. 12. 1984 |
Dátum zrušenia: | 01. 09. 2005 |
ICS: | 29.040.30, 29.040.99 |
Triediaci znak: | 35 8971 |
Úroveň zapracovania: | |
Vestník: | 06/85 |
Zmeny: | |
Nahradzujúce normy: | |
Nahradené normy: | |
Poznámka vo Vestníku: | |
Predmet normy: |